41. Semiconductor devices in harsh conditions /

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Environmental testing,Extreme environments,Semiconductors-- Reliability

رده :
TK7871
.
85
.
S449
2017

42. Semiconductor devices measurments and tests

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع : Semiconductors,Semicondcturs-testing

رده :
TK
7871
.
85
.
G67413

43. Semiconductor devices measurements & tests

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)

موضوع : SEMICONDUCTORS , SEMICONDUCTORS TESTING , ELECTRIC MEASUREMENTS

رده :
TK
7871
.
85
.
G674
1980

44. Semiconductor devices; testing and evaluation

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و موزه دانشگاه شهید بهشتی (تهران)

موضوع : Semiconductors - Testing

رده :
621
.
38152
Jo-S

45. Semiconductor devices : testing and evaluation

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)

موضوع : ، Semiconductors-- Testing

رده :
TK
7871
.
85
.
J68

46. Semiconductor devieas measurements and tests

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)

موضوع : ، Semiconductors,، Semiconductors-- Testing,، Electric measurements

رده :
TK
7871
.
85
.
G67413

47. Semiconductor material and device characterization

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه دانشگاه آزاد اسلامی واحد قم (قم)

موضوع : Semiconductors,Semiconductors -- Testing

رده :
QC
.
S335
611
2006

48. Semiconductor material and device characterization

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع : Semiconductors,Semiconductors- Testing,Semiconductors devices

رده :
QC611
.
S335
1990

49. Semiconductor material and device characterization

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع : Semiconductors,Semiconductors , Testing

رده :
E-BOOK

50. Semiconductor material and device characterization

پدیدآورنده :

موضوع : ، Semiconductors,، Semiconductors-- Testing

۸ نسخه از این کتاب در ۶ کتابخانه موجود است.

51. Semiconductor material and device characterization

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع : ، Semiconductors,Testing ، Semiconductors

رده :
QC
611
.
S335
1998

52. Semiconductor material and device characterization

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع : Semiconductors,Semiconductors- Testing

رده :
QC611
.
S335
2006

53. Semiconductor material and device characterization

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)

موضوع : ، Semiconductors,، Semiconductors -- Testing

رده :
QC
611
.
S335
1990

54. Semiconductor material and device characterization

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد شهید مطهری دانشگاه ولی عصر(عج) (کرمان)

موضوع : semiconductors,semiconductors-testing

رده :
QC
611
.
S335
2005

55. Semiconductor material and device characterization

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)

موضوع : Semiconductors , Semiconductors - Testing

رده :
QC
611
.
S335
1998

56. Spreading Resistance Symposium : proceedings of a symposium, held at the National Bureau of Standards, Gaithersburg, Md., June 13-14, 1974

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)

موضوع : Testing Congresses ، Semiconductors,Congresses ، Electric resistance, Spreading

رده :
QC
100
.
U57
1974

57. Testing and reliable design of CMOS circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)

موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Reliability,، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction

58. Testing and reliable design of CMOS circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)

موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complimentary -- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary -- Reliability,، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction

رده :
TK
7871
.
99
.
M44
J49

59. The role of microscopy in semiconductor failure analysis

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)

موضوع : Semiconductors - Testing , Semiconductors - Failures , Microscopes

رده :
TK
7871
.
85
.
R464

60. Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits /

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Integrated circuits-- Testing.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration.,Semiconductors-- Testing.,Integrated circuits-- Testing.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration.,Semiconductors-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Digital.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Microelectronics.

رده :
TK7874
.
B35
2010